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分析機能付き走査電子顕微鏡［本部］運用一時休止のお知らせ
印刷用ページを表示する 更新日：2024年9月10日更新
故障のため、下記の装置の機器利用を一部休止いたします。
分析機能付き走査電子顕微鏡[本部]
https://www.iri-tokyo.jp/setsubi/zai-h20-sem.html
休止期間：未定
再開の目途が立ち次第、webページにてお知らせいたします。
ご利用のお客様には大変ご不便をお掛けいたしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。
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