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偏光イメージングシステム
印刷用ページを表示する 更新日：2022年10月1日更新
- 分類
- A：分析・評価：物性測定
- 対象
- 仕様
複屈折位相差測定範囲：0から3000nm
視野サイズ：約4×6mmから100×136mm
画素数：384×288 pixels
測定時間：数秒から数十秒
測定波長：523nm, 543nm, 575nm- 用途
- 各種材料の複屈折位相差と主軸方位の2次元分布計測
(画素毎の計測データを取得可能です) - 製造者
- 株式会社フォトニックラティス
- 型番
- ワイドレンジ2次元複屈折評価システムWPA-100
- 導入年度
- 2014
- 設置場所
- 本部
- グループ
- マテリアル技術グループ
- 試験規格対応
- 備考
複屈折位相差から、ガラスなどの透明材料の応力分布や歪みの面内分布を定量的に評価できます。
また、複屈折位相差と主軸は高分子の配向状態に対して敏感に変化するため、樹脂成型品の成形条件の評価などにも活用できます。
波長550nm付近の光を使って測定しますので、基本的には透明なものが測定対象となります。機器利用ご依頼の際は、ご案内をご一読ください。
お問い合わせは、ご案内下部に記載されたメールアドレスまでお願いいたします。
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 機器利用 | 2.1. | 2次元複屈折評価システム [1時間につき] | S21111 | 2,600円 | 5,060円 |
- 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
- ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
- 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
- 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。
（外部リンク）
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