ページの先頭です。 メニューを飛ばして本文へ
トップページ > 機器・設備検索 > 走査電子顕微鏡[城南支所-1]

走査電子顕微鏡[城南支所-1]

印刷用ページを表示する 更新日:2023年12月20日更新
設備利用
依頼試験
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

電子銃:冷陰極電界放出形電子銃
分解能:1nm(加速電圧 15kV、WD=4mm)
倍率:20倍 から 80万倍 まで(実用倍率数十万倍程度)
分析検出器:エネルギー分散型X線分析装置
分析範囲:5B から 92U まで
試料サイズ:最大32mm(直径)

用途
微小部分の観察および分析
製造者
株式会社日立ハイテク
型番
Regulus8230
導入年度
2020
設置場所
城南支所
グループ
城南支所
試験規格対応
備考

【注意事項】

磁性体試料は、対物レンズの磁界で強く吸引され、故障の原因となりますので、本装置では観察できません。

 

 

【動画紹介】

FE-SEM(外部リンク)

上記YouTube動画にて、本装置でできることや利用例などについて、担当研究員が分かりやすくご紹介しています。

ぜひご覧ください。

 

 

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] T632111 12,460円 18,100円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] T632121 2,890円 4,410円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T632211 9,100円 13,610円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T632311 14,960円 26,000円

FESEM

  • 設備・機器に関してのご質問、依頼試験・機器利用のご予定等は、設備場所をご確認のうえ、事業所 連絡先の電話番号にご連絡ください。
  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

ページの先頭へ