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オージェ電子分光分析装置
印刷用ページを表示する 更新日：2016年12月19日更新
- 分類
- A：分析・評価：機器分析
- 対象
- 仕様
分析できる元素：Li から U まで
分析領域：50nm から 1mm 四方、深さ／数nm
分析感度：1% から 100% まで
分析モード：定性分析、深さ方向分析、面分析- 用途
- 金属材料、メッキ品等の極表面の元素分析。変色品と正常品の違いをみることが多い。
- 製造者
- アルバック・ファイ株式会社
- 型番
- PHI 700
- 導入年度
- 2005
- 設置場所
- 城南支所
- グループ
- 城南支所
- 試験規格対応
- 備考
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 依頼試験 | 6.1.23. | オージェ電子分光分析装置によるもの 定性分析 [1測定点につき] | T635111 | 12,150円 | 24,300円 |
| 依頼試験 | 6.1.23. | オージェ電子分光分析装置によるもの 深さ方向分析 [1試料1時間につき] | T635211 | 12,410円 | 24,820円 |
| 依頼試験 | 6.1.23. | オージェ電子分光分析装置によるもの 深さ方向分析 （同一試料の追加） [1時間につき] | T635212 | 3,910円 | 7,820円 |
| 依頼試験 | 6.1.23. | オージェ電子分光分析装置によるもの 面分析又は線分析 [1測定につき] | T635311 | 12,020円 | 24,050円 |
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