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膜厚計（蛍光X線式）［プロセス技術G-1］
印刷用ページを表示する 更新日：2018年12月20日更新
- 分類
- G：形状計測・カメラ：寸法・形状計測
- 対象
- 仕様
X線照射領域径 ： Φ0.1mm
検出器 ： 比例計数管
検出可能元素 ： Ti（原子番号22） から Bi（原子番号83） まで- 用途
- めっきの厚さ測定
- 製造者
- 株式会社日立ハイテクサイエンス
- 型番
- SFT-110
- 導入年度
- 2011
- 設置場所
- 本部
- グループ
- プロセス技術グループ
- 試験規格対応
- 備考
- FP法のみ
- 長期間機器を占有することになる機器利用はできません。
| 設備利用 | 分類番号 | 試験項目 | 項目コード | 中小料金 | 一般料金 |
|---|---|---|---|---|---|
| 機器利用 | 4.2. | 蛍光X線膜厚計 [1時間につき] | S41211 | 2,920円 | 6,210円 |
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